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最新产品 > 计量仪器 > 表面测量仪器 > 轮廓仪/粗糙度仪>KOSAKA 台阶仪(探针接触式...

更新时间:2024-12-20 12:16:05 点击:539次

产品型号 ET 200
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 轮廓仪/粗糙度仪
品牌 返回顶部 KOSAKA
产地 返回顶部 日本
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技术参数
最大样品厚度 返回顶部 50mm
样品台 返回顶部 φ160mm
仪器尺寸 返回顶部 W494×D458×H610mm, 120kg(不含防震台)
电源 返回顶部 AC100V±10%, 50/60HZ, 300VA
其他信息
产品简介

株式会社小坂研究所(KOSAKA)是于 1950 年创立的公司,也是日本第一家发表光学干杠杆表面粗糙度计,是一家具有悠久历史与技术背景的专业厂商,主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为最具代表性单位且在日本精密测定业占有一席无法被取代的地位。
KOSAKA ET200 基于 Windows XP 操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层 以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET200 能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。
ET 200 配备了各种型号探针,提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头,彩色 CCD原位采集设计,可直接观察到探针工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。

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