最新产品 > 特种检测仪器 > 电磁检测仪器 > 带保温层承压设备脉冲涡流测厚仪 >美国Oxford PCB专用铜厚测试仪 CMI...
更新时间:2024-11-10 07:22:09 点击:1672次
产品型号 | CMI760 |
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参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 带保温层承压设备脉冲涡流测厚仪 |
品牌 | 返回顶部 Oxford Instruments |
产地 | 返回顶部 美国 |
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技术参数 | |
示值误差 | 返回顶部 ±1% (±0.1 μm)参考标准片 |
测量最小直径 | 返回顶部 35 mils (899 μm) |
量程 | 返回顶部 化学铜: (0.25 μm – 12.7 μm); 电镀铜:(2.5 μm – 152 μm) |
其他信息 | |
产品简介 |
技术参数: SRP-4面铜探头测试技术参数: |
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应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | 牛津仪器测厚仪器CMI760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。 CMI760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性,对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。 同时CMI760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。 返回顶部 |
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