涂层测厚仪概述

TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量；可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

符合以下标准：

§                         GB/T 4957-1985 涡流方法

§                         JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》

§                         JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

涂层测厚仪技术参数

§                         测头类型：N

§                         测量原理：电涡流

§                         测量范围： 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)

§                         低限分辨力：1µm(10um以下为0.1um)

§                         探头连接方式：一体化

§                         示值误差：

1.                                              一点校准(um)：±[3%H+1.5]

2.                                              两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]

§                         测量条件：

1.                                              最小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10

2.                                              基体最小面积的直径(mm)：ф5

3.                                              最小临界厚度(mm)：0.3

§                         温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH

§                         统计功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差

§                         工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

§                         测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）

§                         上下限设置：无

§                         存储能力：15个测量值

§                         打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑

§                         关机方式：自动

§                         电源：二节3.6V镍镉电池

§                         外形尺寸：150×55.5×23mm

§                         重量：150g

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