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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 激光测厚仪>gamma 锡膏厚度测试仪 IT-900

更新时间：2024-12-20 12:12:01 点击：393次

产品简介
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技术参数

产品型号	IT-900
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部激光测厚仪
品牌	返回顶部 gamma
产地	返回顶部
	返回顶部我来纠错（有奖）
技术参数
测量精度	返回顶部 ±0.002mm
仪器重量	返回顶部约30Kg
仪器尺寸	返回顶部 372mm(L)X557mm(W)X462mm(H)
电源	返回顶部 95-265V AC, 50-60Hz
其他信息
产品简介	参数规格：测量原理非接触式，激光线测量精度 ±0.002mm 重复测量精度 ±0.004mm 基座尺寸 324mmX320mm 移动平台电磁锁闭平台，附微调把手移动平台尺寸 320mmX320mm 移动平台行程 230mmX200mm 影像系统高清彩色CCD摄像头光学放大倍率 20－110X (5档可调) 照明系统高亮度环形LED光源(电脑控制亮度调节) 测量光线可低至5µm高精度激光束电源 95-265V AC, 50-60Hz 系统尺寸 372mm(L)X557mm(W)X462mm(H) 系统重量约30Kg 测量软件 Waltrontech HS2000/HSPC2000 (Windows 2000/XP) 使用美国制造的精密激光线发生器，最细线粗可达5微米，是目前同类系统使用的最细激光线，保证了测量的精度和稳定性.软件有英文版，简体中文版，繁体中文版。应用领域：锡膏厚度测量面积，体积，间距，角度，长度，宽度，园弧，不规则形状等所有几何测量锡膏厚度，PCB板上油墨，线路，焊盘高度，尺寸测量，零件脚共平面度测量影像捕捉，视频处理，文件管理 SPC统计，分析，报表输出锡膏测厚机的工作原理：非接触式激光测厚仪由专用的激光器产生很细的线型光束，以一定的倾角投射到待测量目标上，由于待测目标与周围基板存在高度差，此时观测到的目标和基板上的激光束相应出现断续落差，根据三角函数关系可以用观测到的落差计算出待测目标与周围基板存在的高度差，从而实现非接触式的快速测量。返回顶部
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技术创新	此仪器尚未有技术创新返回顶部
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