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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>美国Rtec 三维白光干涉仪 WLI100...

更新时间:2024-12-19 08:14:29 点击:487次

产品型号 WLI1000
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 白光干涉测厚仪
品牌 返回顶部 美国Rtec
产地 返回顶部 美国
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技术参数
测试厚度范围 返回顶部 最高达100mm
其他信息
产品简介 产品参数:
垂直分辨率:0.1nm
转轮:6镜头转轮(自动或手动)
扫描范围:最高达150mmx150mm
试样厚度:最高达100mm
视场:最高达10mm
物镜:10倍,50倍
Z轴方向聚焦范围:0.1nm到10mm
扫描区域: 150x150mm
倾斜角:±7度
平台旋转范围:360度
像素:标准1024x1024


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技术创新 白光干涉测量系统沿着垂直轴向捕获光强数据,通过白光干涉图的形状,局部相位或者两者结合确定表面位置。
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