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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>美国Filmetrics 薄膜厚度测量仪 ...
更新时间：2024-12-20 01:02:36 点击：3063次
| 产品型号 | F10-AR |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 白光干涉测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 美国Filmetrics |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
零配件清单如下： 光谱仪主机 FILMeasure 6.0 软件光碟 CP-1-AR探头 BK-7参考片 TH-1备用光源灯泡 70mm镜片特殊固定台 滤光片（用于高反射率基底） 优势及售后服务： 拥有130多种材料的数据库 免费软件更新 工作日应用工程师24小时的技术支持 在线“手把手”支持 支持硬件升级 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | F10-AR--轻松实现抗反射膜层和硬膜层测量 F10-AR是Filmetrics公司为眼科抗反射膜层测量而专门开发出来的简单、实惠的测量仪器。仅需同业产品百分之几十的价格，世界领先专利技术打造的它，仅需几秒钟的就可以得出你所需要的结果，而且操作极为简单。首次使用培训仅需几分钟，用户就可以在任意指定波长上对最小、最大、平均反射率值进行测量。 内置的特殊算法可以对因硬膜层引起的局部扭曲进行校正，Filmetrics专利的AutoBaseline功能能极大的提高基准参照的读取时间，同时使测量精度比市面上的基于光纤探头的测量设备要高五倍以上。 对于厚度达0.25-15μm的硬膜层，提供了选配的UPG-F10-AR-HC软件升级功能，以满足特殊要求。升级后，即使在存在AR层的情况，硬膜层厚度测量也可以轻松实现。 无背反射之忧 独特的探头设计，实现了在1.5mm厚的基底上对阻隔了98%的背反射，而且镜片越厚阻隔效果更佳。 返回顶部 |
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