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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>美国Filmetrics 薄膜厚度测量仪 ...
更新时间：2024-12-19 08:16:29 点击：2940次
| 产品型号 | 50系列 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 白光干涉测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 美国Filmetrics |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
产品技术参数： 厚度范围： F50：15nm - 70µm；F50-UV：3nm - 70µm；F50-NIR：100nm - 250µm；F50-EXR：15nm - 250µm；F50-UVX：3nm - 250µm；F50-XT：10µm - 1mm 波长范围： F50：380-1100nm；F50-UV：200-1100nm；F50-NIR：950-1700nm；F50-EXR：380-1700nm；F50-UVX：200-1700nm；F50-XT：1590-1650nm 产品零配件清单： 光谱仪主机 光纤 SS-3带光纤样品台 4", 6" and 200mm参考片 TS-Si02-4-7200厚度标准片 真空泵 TH-1备有光源灯泡 镊子 优势及售后服务： 拥有130多种材料的数据库 免费软件更新 工作日应用工程师24小时的技术支持 在线“手把手”支持 支持硬件升级 常规选配件： NIST（美国国家标准技术研究所）可追溯厚度标准片 F50夹盘-75mm, 100mm, 200mm, and 300mm F50小光斑选项，VIS或UV 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | F50系列 自动薄膜厚度Mapping工具 F50系列产品实现了从点测量到面测量的飞跃，不但能十分快捷的测量出薄膜的厚度和光学常数，而且通过其领先的光谱反射系统能把测量结果通过图像形象的表达出来。电机驱动的r-θ极坐标平台能自动的选择测量点，数秒内即可得出测量结果。您可以从我们已设定好的十多种运行轨迹中选择—例如极性、矩形或线性轨迹，或者使用自己创建的运行轨迹，F50都可以帮你实现任意数量点的测量。整个系统仅需几分钟即可完成安装，您只需具备基本的电脑技能就可以熟练使用。 返回顶部 |
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