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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>K-MAC OSP薄膜测厚仪 ST2080-OS...
更新时间：2025-02-23 10:15:15 点击：437次
| 产品型号 | ST2080-OSP |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 白光干涉测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 K-MAC |
| 产地 | 返回顶部 韩国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 重复性 | 返回顶部 Z轴：± 1㎛ |
| 波长范围 | 返回顶部 420~640 nm |
| 应用领域 | 返回顶部 主要用来测量PCB/PWB板铜箔上的OSP薄膜 |
| 测试厚度范围 | 返回顶部 350Å~3㎛ |
| 测量速度 | 返回顶部 最大50mm/s |
| 光斑尺寸 | 返回顶部 最小1.35㎛,0.135㎛ |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
仪器简介： 标准模式 工业规格 手动样品台 自动调焦 技术参数： 活动面积：86.4 x 64.8㎛ 波长范围：420~640 nm 厚度测量范围：350Å~3㎛ 最小光斑尺寸：1.35㎛,0.135㎛ 透镜旋转台：5X,50X 可测量层：1 样品台尺寸：200mmX200mm Z轴可重复性：± 1㎛ Z轴自动调节结构： Z direction Head Movement Travel range : 50mm Max. velocity : 50mm/s 应用领域： 主要用来测量PCB/PWB板铜箔上的OSP薄膜 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | *非接触式，非破坏式 *3D测量图像 *可测量亚微米光斑 *实样监控 *易操作界面 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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