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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>K-MAC 薄膜厚度测量仪 ST5000
更新时间：2024-12-20 17:22:35 点击：424次
| 产品型号 | ST5000 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 白光干涉测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 K-MAC |
| 产地 | 返回顶部 韩国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 应用领域 | 返回顶部 半导体，电解质，平板行业等 |
| 测试厚度范围 | 返回顶部 100Å~ 35㎛ |
| 测量速度 | 返回顶部 1~2 sec./site |
| 光斑尺寸 | 返回顶部 40㎛/20㎛,4㎛(option) |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
仪器简介： ·标准模式 ·工业规格 ·自动机械X-Y活动 ·自动调焦 ·防震台 技术参数： 类型 ：自动的 测量方法： 非接触 测量原理 ：反射计 活动范围： ~300mm x 300mm 测量范围： 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type) 光斑尺寸： 40㎛/20㎛,4㎛(option) 测量速度 ：1~2 sec./site(fitting time) 应用领域 ：半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS + Si, Ge, SiGe... 电解质: SiO2, TiO2, TaO5, ITO, ZrO2, Si3N4, Photoresist, ARC,... 平板行业：(包括 LCD, PDP, OLED, ): a-Si, n+-a-Si, Gate-SiNx MgO, Alq, ITO, PR, CuPc, NPB, PVK, PAF, PEDT-PSS, Oxide, Polyimide... 光学涂层：: 减反射膜, Color Filters... 太阳能电池 Doping a-Si(i-type, n-type, p-type), TCO(ZnO, SnO, ITO..) 聚合物: PVA, PET, PP, Dye, Npp, MNA, TAC, PR... Recordable materials: Photosensitive drum, Video head, Photo masks, Optical disk 可选： Transmittance Module Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST) 接物镜旋转器： Quintuple Revolving Nosepiecs 焦点 ：Coaxial Coarse and Fine Focus Controls 附带照明 ：12v 100W Halogen Lamp 返回顶部 |
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| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | *测量迅速，操作简单 *非接触式，非破坏方式 *优秀的重复性和再现性 *2D/3D 映射和造型 *自动机械活动控制 *电荷耦合器件照相机 *自动调焦 *防震台 返回顶部 |
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