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最新产品 > 化学分析仪器 > 质谱仪 > 二次离子质谱>CAMECA 二次离子质谱仪 IMS 7f
更新时间：2024-12-20 21:53:41 点击：4682次
| 产品型号 | IMS 7f |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 二次离子质谱 |
| 品牌 | 返回顶部 CAMECA |
| 产地 | 返回顶部 法国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
• 灵敏度：CAMECA IMS 7f 工作是的有效离子产率(useful yields- secondary ion detected per atomsputtered)比四极杆分析器高达100倍。做一次通常的深度剖析或者成像分析，以获得同样灵敏度所用时间相比，是TOF类SIMS的千分 之一。(或反过来说，同样的分析时间，TOF SIMS的灵敏度要低达1000倍)。 • 质量分辨: CAMECA IMS 7f 可以分辨绝大多数质谱中存在的质量干扰，例如，31P与H30Si, 56Fe与28Si or 17O与H16O。这些干扰使得低质量分辨率质谱仪（比如四极杆类型）的探测极限大打折扣。CAMECA的SIMS获得高质量分辨率的同时并不会降低分析速度，这是TOF质谱仪无法做到的。
• 离子成像：CAMECA IMS 7f 可以对所选质量给出显微镜模式的图像，分辨率达到一微米。从时间上看，这种模式下获得图像的速度比常规的扫描图像模式(microprobe mode)要高几个数量级。这种模式下还可以大大缩短调试设备的时长。 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 主要优势在于其极高的灵敏度、高空间分辨率（亚微米级横向分辨率，纳米级深度分辨率）以及同位素分辨本领。因其 ppb 水平检测极限以及高分析速度和可靠性，IMS 7F 成为遍布全球的众多独立分析实验室的主力军。CAMECA的SIMS技术领先世界。无与伦比的性能得益于其独有的基于磁扇区原理的仪器设计。 返回顶部 |
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