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最新产品 > 物理分析仪器 > 光电测量仪器 > 其他光电测量仪器>北京量拓科技 教学型椭偏仪 EX2
更新时间：2024-12-18 12:04:16 点击：485次
| 产品型号 | EX2 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 其他光电测量仪器 |
| 品牌 | 返回顶部 北京量拓科技 |
| 产地 | 返回顶部 中国大陆 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）椭偏测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。 EX2仪器适用于纳米薄膜的厚度测量，以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。 EX2仪器还可用于同时测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 |
经典消光法椭偏测量原理 仪器采用消光法椭偏测量原理，易于操作者理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。 方便安全的样品水平放置方式 采用水平放置样品的方式，方便样品的取放。 紧凑的一体化结构 集成一体化设计，简洁的仪器外形通过USB接口与计算机相连，方便使用。 高准确性的激光光源 采用激光作为探测光波，测量波长准确度高。 丰富实用的样品测量功能 可测量纳米薄膜的膜厚和折射率；块状材料的复折射率、样品反射率、样品透过率。 便捷的自动化操作 仪器软件可自动完成样品测量，并可进行方便的测量数据分析、仪器校准等操作。 安全的用户使用权限管理 软件中设置了用户使用权限（包括：管理员、操作者等模式），便于仪器管理和使用。 可扩展的仪器功能 利用本仪器，可通过适当扩展，完成多项偏振测量实验，如马吕斯定律实验、旋光测量实、旋光等。 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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