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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 激光测厚仪>日本SII X射线荧光镀层厚度测...
更新时间：2024-12-20 03:20:18 点击：480次
| 产品型号 | SFT9200M型 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 激光测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 SII |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 | 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 |
·是SFT3000系列的后续机型。 ·依据照明，可以看到以前观察困难的样品。 ·搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。 ·运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。 ·微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。（任选） ·搭载了焦点切换功能，能够对有高度的样品的低部分进行测定。（任选） 返回顶部 |
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