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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 激光测厚仪>日本SII X射线荧光镀层厚度测...
更新时间：2024-12-18 18:00:50 点击：475次
| 产品型号 | SFT9100M型 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 激光测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 SII |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 | 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 |
·操作非常简单。 ·运用激光焦点的功能，简单的调整位置。 ·针对有凹凸的样品也搭载了放心的防止冲突传感器。 ·搭载焦点切换机构，可以对高的样品的低部分进行测定。(任意选择) ·采用可以测定大型打印基板的狭小间隙机构。 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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