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最新产品 > 物理分析仪器 > 光电测量仪器 > 其他光电测量仪器>韩国Nano-View SE-MG 10...
更新时间:2024-12-15 17:36:33 点击:571次
产品型号 | SE-MG 1000 |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 其他光电测量仪器 |
品牌 | 返回顶部 Nano-View |
产地 | 返回顶部 韩国 |
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技术参数 | |
其他信息 | |
产品简介 | 采用专利的无需校准、无需标定技术和独特的无臂结构,USB接口和计算机连接,配合强大的控制分析软件和多通道检测器,测试速度快,10ms检测全光谱,是您实验室分析薄膜的极佳工具。可广泛应用于:测量薄膜/多层膜的厚度、表面粘污, 表面与界面粗糙度、反射率, 组成与空隙率、合金比例等。 返回顶部 |
应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 |
1.测量快速、简便 2.先进的探测系统极大提高信噪比 3.分别测量1000个以上光谱点 4.光学器件集成度高 返回顶部 |
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