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更新时间:2024-12-15 17:36:33 点击:571次

产品型号 SE-MG 1000
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 其他光电测量仪器
品牌 返回顶部 Nano-View
产地 返回顶部 韩国
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技术参数
其他信息
产品简介 采用专利的无需校准、无需标定技术和独特的无臂结构,USB接口和计算机连接,配合强大的控制分析软件和多通道检测器,测试速度快,10ms检测全光谱,是您实验室分析薄膜的极佳工具。可广泛应用于:测量薄膜/多层膜的厚度、表面粘污, 表面与界面粗糙度、反射率, 组成与空隙率、合金比例等。
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技术创新 1.测量快速、简便 
2.先进的探测系统极大提高信噪比 
3.分别测量1000个以上光谱点 
4.光学器件集成度高 
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