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看得见的光传播：UPMS技术铸就新一代光子硅芯片
2014-11-18 16:35:06 慕雪发布 来源:益择网
益择网讯（慕雪/编译）随着光学芯片复杂度的增加，测试和描述这些芯片变得越来越困难。光在芯片中的传播被局限于硅中，也就是说，我们看不到它们，也不能从外部测量它们。为此，南安普顿大学的罗马勃拉克博士团队开发出一种观察光在芯片内位置的新技术，将有助于解决上述问题，也可以产生更可靠、更坚固的下一代光子芯片，未来，全球光纤网络数据流量中光子硅芯片将发挥重要作用。
硅的高折射率使得它能制作如头发直径那么小的光学结构，在更小的芯片上集成越来越多的光学结构如光分布、调制、检测和路由等，能够提高数据率并且降低成本。这项新技术被称为超快光调制光谱（UPMS），它采用紫外飞秒激光脉冲来改变光子芯片中微小区域内硅的折射率。像UPMS这种非接触式表征工具对于科学家设计复杂的光子芯片至关重要。UPMS技术快速、可靠，在光电检测业有巨大的应用潜力。
“通过局部改变芯片的折射率来监控光的传播可以得到精确的光在芯片中流过的图片。这使得我们可以测试芯片上独立的光元素，这是优化设计的重要步骤，可以确保完美的操作。此外，由该技术引起的变化是完全可逆的，所以在测试后对芯片无损，它仍可用于预期应用程序。”罗马勃拉克博士说。研究人员下一步希望将该技术作为标准来监测和制造光子芯片，并且尽快将其投入市场。
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