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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > X射线测厚仪>日本精工 X射线镀层测厚仪 SFT-1...
更新时间：2024-12-16 20:13:40 点击：363次
| 产品型号 | SFT-110 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 X射线测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 日本精工 |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 测量范围 | 返回顶部 原子序号22（Ti）～83（Bi） |
| 测量软件 | 返回顶部 薄膜FP法 （最多5层膜、10种元素）、标准曲线法 |
| 样品台尺寸 | 返回顶部 500(W) x400(D) x 150（H）mm （移动量）:X:250mm, Y:200mm |
| 检测器 | 返回顶部 比例计数管 |
| 滤波器 | 返回顶部 一次滤波器： 自动切换 |
| 准直器 | 返回顶部 ○型： 0.1mmφ、0.2mmφ 2种 |
| 对焦 | 返回顶部 激光点（自动） |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
为了适应日益提高的镀层厚度测量需求，精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能，仅需把样品放置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。 近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。 规格 测量元素:原子序号22（Ti）～83（Bi） X射线源:空冷式小型X射线管 检测器:比例计数管 准直器:○型： 0.1mmφ、0.2mmφ 2种 样品观察:CCD摄像头（可进行广域观察） 对焦:激光点（自动） 滤波器：一次滤波器： 自动切换 样品台（台式尺寸）: 500(W) x400(D) x 150（H）mm （移动量）:X:250mm, Y:200mm 操作部:电脑、19寸液晶 测量软件:薄膜FP法 （最多5层膜、10种元素）、标准曲线法 数据处理:配备有Microsoft® Excel、Microsoft® Word 安全机构:样品门连锁、样品的防冲撞功能、仪器诊断功能 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 即放即测！ 通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。 10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！ 以最佳的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。 无标样测量！ 将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。 通过广域观察系统更方便选择测量位置！ 通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（最大250×200mm）中方便地指定测量位置。 返回顶部 |
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