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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > X射线测厚仪>方特 x射线测厚仪 FT
更新时间:2024-12-16 21:36:48 点击:2383次
产品型号 | FT |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 X射线测厚仪 |
品牌 | 返回顶部 方特 |
产地 | 返回顶部 中国大陆 |
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技术参数 | |
其他信息 | |
产品简介 |
X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。 返回顶部 |
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应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | 技术特点 采用国际上先进的的射线源,使用寿命长,易维护;模块化设计,设备结构简洁、部件更换快速、简单,便于维护; 快速多点校正法技术保证了系统的长期精度;快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值,提升测量范围及精度;温度补偿与合金补偿功能。 返回顶部 |
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