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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > X射线测厚仪>Matrix Metrologies 手提式X-...
更新时间：2024-12-15 12:09:09 点击：2304次
| 产品型号 | HMX |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 X射线测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 Matrix Metrologies |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
世界首创的手提式XRF测厚及成份分析仪－HMX系统。 HMX系统不仅具有操作简单、重量轻、电池供电的特点，而且具有实验室XRF的全部功能。 HMX系统特别适用于任何尺寸电镀件快速的厚度测量和成份分析。对于台式XRF很难甚至无法测量的大体积电镀件，而对于HMX系统来说，则是最理想的测量工具。 全便携、无需特殊设置、无需操作者有丰富经验，HMX系统胜任实验室测量以及现场测量，节约了运输被测部件的时间及费用。 只需一台HMX系统，就可以完成对来料的质量检测、基材的前处理检测、电镀过程中的随机检测以及电镀件的最终检测。 HMX系统也是唯一的一种能够同时测量小部件的手提式仪器。只需简单地“定位和测量”，仪器就会自动产生厚度的平均值。 现在，需要快速、准确、功能强大的XRF系统的用户，无论何时何地，都有了最好的选择 返回顶部 |
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