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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > X射线测厚仪>日本精工 X射线荧光镀层厚度测量...
更新时间：2024-12-20 15:20:29 点击：2253次
| 产品型号 | SFT-110 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 X射线测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 日本精工 |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 准直器 | 返回顶部 0.1、0.2mmφ2种 |
| 样品台尺寸 | 返回顶部 [固定] 535×530mm [电动] 260×210mm （移动量 X:250mm, Y:200mm） |
| 检测器 | 返回顶部 比例计数管 |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
厚仪，日本精工测厚仪，测厚仪SFT-110，X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110, X射线荧光镀层厚度测量,日本精工X射线荧光镀层厚度测量仪，日本精工X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110 射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110，使操作性进一步提高。对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可保证产品的功能及品质，降低成本。 产品详细信息 仪器简介： 使操作性进一步提高。对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可保证产品的功能及品质，降低成本。首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来，已经累计销售6000多台，得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。 为了适应日益提高的镀层厚度测量需求，精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能，仅需把样品放置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。 技术参数： ［主要产品规格］ 检测器： 比例计数管 X射线源： 空冷式小型X射线管 准直器： 0.1、0.2mmφ2种 样品观察： CCD摄像头 样品台：[固定] 535×530mm [电动] 260×210mm （移动量 X:250mm, Y:200mm） 样品最大高度：150mm 返回顶部 |
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| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 |
［SFT-110的主要特征］
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| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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