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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > X射线测厚仪>德国菲希尔Fischer X射线测厚仪 ...
更新时间：2024-12-17 09:40:32 点击：514次
| 产品型号 | X-RAY XDL |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 X射线测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 德国菲希尔Fischer |
| 产地 | 返回顶部 德国 |
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| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
X-RAY XDL是一款应用广泛的能量色散型x射线光谱仪。它们是从已广受认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型系列仪器上发展而来的。与上一代相类似，它们尤其适合无损测量薄镀层厚度及材料分析，同时还能测量大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层厚度，进行镀液成分分析等。 比例接收器能产生高计数率，从而使得高精度测量成为可能。由于使用了Fischer基本参数法，无论是固体的镀层系统还是液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。最多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24种元素。 XDL型X射线光谱仪有着出色的长期稳定性，如此一来，就能大幅减少校准仪器所需花费的精力。XDL系列仪器特别适用于质量控制、来料检验以及生产线监控中的测量需要。 典型的应用领域有： 测量大规模生产电镀零部件 薄镀层检验，如装饰性铬镀层 分析电子工业或半导体工业中的功能性镀层 全自动测量，如印刷线路板中各个测量点的连续自动测量 电镀工业中的电镀液成分分析 返回顶部 |
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