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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > X射线测厚仪>德国ROENALYTIC(宏德) X射线...
更新时间：2025-02-23 11:07:25 点击：746次
| 产品型号 | Compact 5 PIN |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 X射线测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 德国ROENALYTIC(宏德) |
| 产地 | 返回顶部 德国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 准直器 | 返回顶部 单准直器：0.1mm或0.3mm或0.1*0.3mm |
| 样品台尺寸 | 返回顶部 H 6 cm，W35 cm，D38cm |
| 电源 | 返回顶部 110V/ 230V， 60HZ / 50HZ |
| 仪器尺寸 | 返回顶部 H45 cm，W40 cm，D65 cm |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
Compact 5PIN除了轻巧的设计，半开放式测试算，可容纳大件的PCB产品，功能强大，可配合激光自动对焦，全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。 更配备了半导体电子冷却检测器，令分辩率数倍提高，可测量非常薄的镀层，满足于半导体电子工业的应用。 规格参数： 高压电源:25-50KV，1.2mA X光管：钨(W)靶,光点0.5mm*0.5mm 准直器： 单准直器：0.1mm或0.3mm或0.1*0.3mm 可选四个组合：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm或50um,75um*200um,150um*300um,300um或特别订造 样品台：可选手动(NO XY,Z60mm)和全自动( X 100mm，Ÿ85mm，Z 60mm) 样品定位： 操纵杆，自动选位，激光自动对焦(需配合自动样品台) 放大倍数： 40 X / 80X 外型尺寸： H45 cm，W40 cm，D65 cm 样品室(测试箱)： H 6 cm，W35 cm，D38cm 主电源： 110V/ 230V， 60HZ / 50HZ X - MasteR： 操作系统 WINDOWS 2000 / NT/XP u- MasteR： 测量模式：单层、双层、三层、四层、合金层，可测元素范围：Ti-U Fun-MasteR：基本参数法(FP)校对模组，可实现标准片校对模式及无标准片校对模式 Element-MasterR：定性分析模组，一次最多可分析20种元素(针对合金材料) %-MasteR：定量分析模组，一次最多可分析20种元素(针对合金材料) Liquid-MasteR：电镀药液分析模组(针对药液主成份金属离子浓度) Data-MasteR：资料统计模组，最小值、最大值、平均值、误差，统计图表CP、CPK等 Report-MasteR：报告编辑模组，文本格式，Word格式 多元合金或贵金属成色分析：K金、纯金、纯银、饰银、铜材、钢材等 多层电镀厚度分析：Au/Ni/Cu/Fe/Cr/Ni/Cu/Zn等 自动计算可测厚度范围 返回顶部 |
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1楼:个人(w8bh9)
半开放式测试算，可容纳大件的PCB产品，功能强大，可配合激光自动对焦，全方位自动样品台等功能使用
评论于:2014-06-05 09:25:54
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