x射线荧光光谱分析中的基本参数法-益择网-专业的仪器网上选购商城

首页 > 技术文献 >

1968年美国分析化学杂志(Anai．Chem．)第40卷上连续发表了美国海军研究实验室科学家的两篇重要文章，第一篇首次测定了波长色散x射线荧光光谱仪用X光管原级谱的强度分布，第二篇则首次提出了x射线荧光(xRFs)光谱定量分析中用于元素间吸收-N强效应数学校正的基本参数法(Funda—mental Parameters Method)。
众所周知，鉴于元素间吸收增强效应的严重存在，待分析元素测得的x射线荧光强度与其浓度常常不呈线性关系。从20世纪50年代末起，不少学者开始使用所谓的“经验影响系数法”(Empirical Influence Coefficient Method)进行数学校正。即用一组标样和一个经验校正公式，通过回归技术(多变量的最小二乘拟合)计算共存元素对待测元素的经
验影响系数。在随后的30年内先后提出的经验校正公式不下50余种。

下载技术文献

分享到：

x射线荧光光谱分析中的基本参数法

更多促销产品

金牌秒杀（剩余）

金牌秒杀（剩余）

金牌秒杀（剩余）

最新产品更多