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扫描电镜背散射电子像在刑侦检验工作中的应用
2013-02-28 11:43:09 益择发布丛者唐刘明辉余静徐明华
(北京市刑事科学技术研究所北京100054)
摘要作者利用扫描电镜(SEM，scanning electron microscopy)的二次电子像及X射线能谱仪在刑侦检验工作
中已经发挥了非常重要的作用，而利用扫描电镜的背散射电子像(BSE，backscattered electron)和x射线能谱仪在刑侦
检验工作中，也是应用最多和最主要的一种检测分析技术方法。后者在检测射击残留物和分析玻璃弹孔时，比较快
和准。这些技术方法的进一步推广应用，对我国的刑事犯罪破案工作非常有帮助。
关键词扫描电镜及X射线能谱仪；背散射电子像；玻璃弹孔；应用
中图分类号Q一336
The Application of SEM Backscattered Electron Image in Forensic,Sciences Inspection
Cong Zhetang，Liu Minghui，Yu Jing，Xu Minghua
(The Forensic Sciences Institute of Beijing，Beijing，100054，China)
Abstract Secondary electron image and X—-ray EDS had played a significant role in forensic sciences inspection．
Also the BSE image and the X—my EDS．they are the most important analytical instmn把nts which肿widely
used．To detection of Gun Shot Residue and analysis of shooting hole on glass，BSE+EDS will provide faster and al?圯a—
rate result．To generalize the application of BSE+EDS will be great helpful to the forensic sciences detection．
Key words SEM／EDS；BSE；hole on slass；application
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